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  • E3500 SiC 缺陷检测设备

    E3500是针对SiC材料的缺陷检测设备,可以检测SiC衬底、同质外延等的表面和荧光缺陷。可以检测并区分三角、carrot、downfall、micropipe、SF、BPD等缺陷。支持4"、6"、8"晶圆检测,具有高产能、高检测精度的优点。

    42 ¥ 0.00
  • F1000晶圆表面颗粒检测设备

    F1000是专门的颗粒检测设备,可以检测Si、Inp等衬底材料商的Particle。最高可检测到51nm的颗粒(Si基PSL wafer)。支持支持4"、6"、8"或8"、12"晶圆检测。


    16 ¥ 0.00
  • E3200 GaN缺陷检测设备

    E3200是针对GaN 功率器件和HB GaN LED应用,可以检测GaN衬底及PSS基GaN、Si基GaN 和SiC基GaN 等外延片的表面和荧光缺陷,最小检测颗粒81nm。可以检测并区分颗粒(particle)、凹坑(pit)、凸起(bump)、划伤(scratch)、污点(stain)、裂纹(crack)、PL 黑点、PL scratch、PL crystal 缺陷等表面及荧光缺陷。支持4"、6"、8"晶圆检测,具有高产能、检测准确和检出率高的优点。


    17 ¥ 0.00
  • E1000 化合物半导体缺陷检测设备

    Eagle1000 化合物半导体缺陷检测设备可以检测蓝宝石,砷化镓,钽酸锂,石英玻璃,磷化銦等衬底及外延片。可以检测并区分颗粒(particle)、凹坑(pit)、凸起(bump)、划伤(scratch)、污点(stain)、裂纹(crack)等缺陷,最小可检测缺陷81nm;支持4"、6"、8"晶圆检测,具有高产能、检测准确和检出率高的优点。


    17 ¥ 0.00
  • SPI300 晶圆形貌测量与分选设备

    SPI300 晶圆形貌测量设备是一款专门测量晶圆THICKNESS、TTV、BOW、WARP和LTV等外参数并且进行分选的设备。

    24 ¥ 0.00

MOCVD 在线监测系统系列产品

MOCVD在线监测系统系列产品用于实时监测工艺过程中晶圆的温度,反射率和翘曲度,并提供可靠的温度信号用于控温,适用于各种转速的MOCVD机台。包括温度反射率翘曲度在线监测(viperRTC)、表面温度测量(viper405)、温度校准单元(Calibration Unit)、温场扫描系统(Scanpyro)等产品
MOCVD在线监测设备

MOCVD 在线监测系列产品 in-Situ Monitoring Series

l viperRTC – Wafer reflectivity, temperature, curvature in-situ monitoring

l viper405 - Wafer surface temperature measurement

l Calibration unit - Broad band or single wavelength temperature calibration tool

l Scanpyro - Susceptor/Wafer profile measurement

温度反射率翘曲度在线监测 viperRTC

Wavelength

940nm, 405nm, 633nm or customized

Light Source

Temperature stabilized LED

Temperature Range

500 to 1450 °C or customized

Accuracy

<±1°C (by black body calibration)

Repeatability

< 1°C

Curvature

-350 km-1 ~ +350 km-1

Software functions

l growth rate calculation -composition analysis
l runID synchronization
l Auto reporting
l Satellite rotation speed calculation

* Almost 100% market share in made in China MOCVD system, more than 400 system installed.

表面温度测量 viper405

l Temperature range: 650-1300 °C

l Spectral wavelength: 405nm
l Detector: Photon Counter
l Resolution: 0.1°C

l Emissivity setting: 0.100-1.0

l Repeatability: <1 °C
l Integration time: >= 1ms
l Interface: RS232C/Ethernet

l Power supply: 12V/1A

l TUV/CE Certification
l Optional Reflectivity and/or Curvature integration

温度校准单元 Calibration Unit

l Spectral wavelength: 940nm
l Data acquisition rate: 10.24 kHz

l Aperture size: 4mm
l Temperature Range: 500-1200°C

l Noise: < 0.005°C
l Temperature drift: < 0.2°C
l Repeatability: < 0.1°C

温场扫描系统 Scanpyro

l Scanning shows the temperature of the entire susceptor and wafers

l Adjustable display color settings

l Display radial and per circle distributions

l Click any point to display the temperature value